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18. Tagung
Festkörperanalytik
Wien, 6. bis 8. Juli 2015
Veranstalter:
Institut für Chemische Technologien und Analytik der TU Wien
Österreichische Gesellschaft für Analytische Chemie (ASAC)
in der GÖCh
Unterstützer:
Institut für Physik & Institut für Chemie der TU Chemnitz
Chemikerausschuss des Vereins Deutscher Eisenhüttenleute
Deutsche Gesellschaft für Materialkunde
Fachgruppe Analytische Chemie der GDCh
Fachgruppe Festkörperchemie und Materialforschung der GDCh
Deutscher Arbeitskreis für Analytische Spektroskopie DAAS der GDCh
GDMB Gesellschaft der Metallurgen und Bergleute e.V.
Deutscher Verband für Materialforschung und –prüfung e.V.
Deutsche Vakuumgesellschaft e.V. (DVG)
Fachverband Mikrosonden der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
PROGRAMM
Tagungsort:
Technische Universität Wien
Wiedner Hauptstraße 8-10
A-1040 Wien
Öffnungszeiten von Kongressbüro und Registratur:
Sonntag, 5. Juli 2015, 16.00 – 20.00 Uhr
Montag, 6. bis Mittwoch, 8. Juli 2015, 8.30 – 18.00 Uhr
TOF.SIMS 5
"Superior Performance for
all SIMS Applications"
ION-TOF GmbH
Heisenbergstraße 15
48149 Münster
Germany
Phone
+49 (0)251 1622-100
Email
[email protected]
Internet www.iontof.com
1
Ultra high sensitivity for molecular species by
optimised cluster ion sources
2
Outstanding performance for low energy
depth profiling
3
Sophisticated software for ease of operation
and data handling
4
Modular construction for configuration and
upgrade flexibility
5
Ergonomic design with compact footprint
PROGRAMM
18. Tagung Festkörperanalytik
Wien, 6. bis 8. Juli 2015
Konzept der Tagung:
Die Tagung findet im 2-jährigen Rhythmus abwechselnd in Chemnitz und
Wien statt. Sie dient der Präsentation analytisch-methodischer
Entwicklungen und wissenschaftlich-technischer Problemlösungen im
Rahmen von Untersuchungen an Festkörpern in Form von eingeladenen
Vorträgen, Kurzvorträgen und Postern. Zentrales Anliegen ist der
Gedankenaustausch zwischen Analytikern, Werkstoffwissenschaftlern,
Festkörperphysikern und Technologen.
Themenschwerpunkte:
x Element- und Verbindungsanalyse: Mikrobereichs- und
Nanobereichsanalytik, Oberflächen- und Grenzflächenanalytik,
Spurenanalyse
x Strukturanalyse: Realstrukturen, Phasenanalyse, Bindungszustände,
Nahordnung
x Chemische Reaktionen in Festkörpern und an Festkörperoberflächen
x Dynamisches Verhalten von Festkörpern:
Transportphänomene, Diffusion, Segregation
x Einsatz der Analytik für Werkstoffentwicklung und –produktion:
metallische Werkstoffe, Halbleiter, Keramik, Glas, Polymere, Schicht- und
Verbundwerkstoffe, nanostrukturierte Materialien, Biomaterialien,
Theoretische und Chemometrische Aspekte, Qualitätssicherung
x Neue geräte- und verfahrenstechnische Entwicklungen
1
Hauptvorträge:
Jörg FLOCK, ThyssenKrupp Steel Europe AG, Duisburg
Verbundwerkstoffe als Beitrag für den Klimaschutz - Analytik für Entwicklung
und Produktion
Michael FRÖBA, Universität Hamburg
Moderne Analysenverfahren zur Charakterisierung poröser Festkörper
Ute KAISER, Universität Ulm
Hochaufgelöste Transmissionselektronenmikrokopie bei niedrigen
Beschleunigungsspannungen
Jens KREISEL, Luxembourg Institute of Science and Technology (LIST)
Probing functional oxide thin films and mulitlayers by Raman spectroscopy
Bernd SCHMIDT, Helmholtzzentrum Dresden-Rossendorf
Ionenstrahlanalyseverfahren in der Materialforschung
Stefan SCHWEIZER, Fachhochschule Südwestfalen, Soest
Materialdesign und -analyse von neuartigen Weißlicht-LEDs
Thomas SEYLLER, Technische Universität Chemnitz
Epitaxial graphene on SiC
Philippe ZEITOUN, ENSTA ParisTech, Palaiseau
Coherent and ultrafast soft x-ray sources for dynamical study of perturbed
solids
2
Wissenschaftliches Komitee:
G. G.
Friedbacher,
Friedbacher,
Wien
Wien
(Vorsitzender)
(Vorsitzender)
M.M.
Hietschold,
Hietschold,
Chemnitz
Chemnitz
(stellvertretender
(stellvertretender
Vorsitzender)
Vorsitzender)
D. D.
Bleiner,
Bleiner,
Dübendorf
Dübendorf
F. Mücklich,
F. Mücklich,
Saarbrücken
Saarbrücken
J. Broekaert,
J. Broekaert,
Hamburg
Hamburg
K.-H.
K.-H.
Müller,
Müller,
Soest
Soest
R. R.
Denecke,
Denecke,
Leipzig
Leipzig
H. H.
Nickel,
Nickel,
Jülich
Jülich
H.-J.
H.-J.
Engelmann,
Engelmann,
Dresden
Dresden
H. H.
Oechsner,
Oechsner,
Kaiserslautern
Kaiserslautern
T. Gemming,
T. Gemming,
Dresden
Dresden
J. Pedarnig,
J. Pedarnig,
LinzLinz
W.W.
A. A.
Goedel,
Goedel,
Chemnitz
Chemnitz
P. P.
Portella,
Portella,
Berlin
Berlin
R. R.
Holze,
Holze,
Chemnitz
Chemnitz
V. V.
Thien,
Thien,
Mülheim
Mülheim
M.M.
Kopnarski,
Kopnarski,
Kaiserslautern
Kaiserslautern
K. K.
Wetzig,
Wetzig,
Dresden
Dresden
H. H.
S. S.
Leipner,
Leipner,
Halle
Halle
D. D.
Zahn,
Zahn,
Chemnitz
Chemnitz
G. G.
Marx,
Marx,
Chemnitz
Chemnitz
Ch.Ch.
Ziegler,
Ziegler,
Kaiserslautern
Kaiserslautern
J. Mayer,
J. Mayer,
Aachen
Aachen
Organisation:
Prof. Dr. Gernot Friedbacher
Ing. Elisabeth Eitenberger (Tagungsbüro und Firmenausstellung)
Anna Satzinger (Sekretariat)
Eva Laimer (Tagungsbüro)
Institut für Chemische Technologien und Analytik
Technische Universität Wien
Getreidemarkt 9/164-IAC, A-1060 Wien
Tel.: +43 1 58801 15110 bzw. 15112, 15101, 15102 (Sekretariat)
Fax: +43 1 58801 915110
E-mail: [email protected]
Anmeldung zur Teilnahme an der Tagung, zum Willkommenstrunk und
zum Heurigenabend bitte mittels beiliegendem Formular vornehmen
(vorzugsweise per Email senden).
3
Hotelunterkunft, Kulturelles Angebot:
Austropa-Interconvention
Verkehrsbüro Kongress Management GmbH
Lasallestraße 3, A-1020 Wien
Telefon: +43 1 58800 516
Fax: +43 1 58800 520
E-mail: [email protected]
Homepage: www.austropa-interconvention.at
Zimmerreservierungen bitte online (www.fka18.at) vornehmen. Sollte das
Zimmerkontingent für die Tagung ausgebucht sein, können weitere
Zimmer über www.booking.com/city/at/vienna gebucht werden.
Bitte
wenden
Sie
sich
in
allen
Fragen
betreffend
Unterkunft,
Reisearrangements und Theaterkarten direkt an Austropa-Interconvention.
Danksagung:
Die Veranstalter danken dem Vienna Convention Bureau, sowie allen
Ausstellern und Sponsoren für die finanzielle Unterstützung der Tagung.
4
Aussteller und Sponsoren:
5
Röntgen / CT
Metallographie
Ultraschall
Optische Emission / XRF-Analytik
Härteprüfung
6
GRIMAS GMBH – AUSTRIA
A-3012 Wolfsgraben, Hauptstraße 17
E-mail: offi[email protected]
www.grimas.at · www.oegzfp.at
RT/UT/ET/MT/PT/VT/ANALYSE/METALLOGRAPHIE/HÄRTE
PROGRAMM
Montag, 6. Juli 2015
9.00
BEGRÜßUNG
VORSITZ: H. NICKEL
9.15
HV1
J. Flock, ThyssenKrupp Steel Europe AG, Duisburg,
„Verbundwerkstoffe als Beitrag für den Klimaschutz – Analytik für
Entwicklung und Produktion“
9.50
HV2
T. Seyller, Technische Universität Chemnitz, „Epitaxial Graphene on
SiC“
10.25
FIRMENPRÄSENTATIONEN
10.40
AUSSTELLUNG, KAFFEE
VORSITZ: K. WETZIG
11.00
KV1
F. Mücklich, M. Engstler, D. Britz, Universität des Saarlandes,
Saarbrücken & Material Engineering Center Saarland, Saarbrücken
„Zu Perspektiven der skalenübergreifenden Gefügeanalyse in zwei
und drei Dimensionen“
11.20
KV2
C. Commenda, J. Pühringer, voestalpine Stahl Linz GmbH, Linz,
„Zeitliche Änderung der Karbidstruktur und mechanischen
Eigenschaften bei thermischer Behandlung von perlitischen
Stählen“
11.40
KV3
K. Mayr, C. Haider, G. Schrattenecker, voestalpine Stahl Linz
GmbH, Linz, „Einfluss der thermo-mechanischen Belastung auf die
Mikrostruktur und mechanischen Eigenschaften von ferritischen
Stählen“
7
12.00
KV4
L. Smykalla, M. Hietschold, TU Chemnitz, „Manipulation of the
electronic structure of an organic molecule by dehydrogenation
and its dependance on the substrate and temperature“
12.20
KV5
M. Getzlaff, Universität Düsseldorf, „Nanopartikel auf Oberflächen “
12.40
MITTAGSPAUSE
VORSITZ: R. HOLZE
14.00
HV3
M. Fröba, Universität Hamburg, „Moderne Analysenverfahren zur
Charakterisierung poröser Festkörper“
14.35
FIRMENPRÄSENTATIONEN
15.00
POSTERSITZUNG, AUSSTELLUNG, KAFFEE
VORSITZ: R. DENECKE
16.20
KV6
D. V. Szabó, G. Kilibarda, S. Schlabach, V. Winkler, V. Trouillet,
B. Bergfeldt, M. Bruns, C. Kübel, Karlsruher Institut für
Technologie, Eggenstein-Leopoldshafen, “Kombinierte chemische,
elektronenmikroskopische, strukturelle, spektroskopische und
elektrochemische Charakterisierung von nanoskaligen AnodenMaterialien”
16.40
KV7
M. Reichinger, Universität Paderborn, “Grenzflächen- und
Volumendiffusion: NaCl-Lösung trifft auf kathodische
Tauchlackierung”
17.00
KV8
R. Holze, TU Chemnitz, „Elektrochemische Energiewandler bei der
Arbeit beobachtet – mit in-situ Spektroskopien“
8
17.20
KV9
V. Winkler, T. Hanemann, M. Bruns, Institut für Angewandte
Materialien, Eggenstein-Leopoldshafen & Universität Freiburg &
Karlsruhe Nano Micro Facility, Eggenstein-Leopoldshafen, „XPS
Charakterisierung von Elektrodenoberflächen in Lithium-IonenBatterien“
17.40
KV10
T. Diemant, M. Helen, M. A. Reddy, U. Golla-Schindler,
U. Kaiser, M. Fichtner, R. J. Behm, Universität Ulm & Helmholtz
Institute, Ulm & Central Facility for Electron Microscopy, Ulm &
Karlsruhe Institute of Technology, Eggenstein-Leopoldshafen,
„XPS Characterization of Sulphur Transformations during
Operation of Li-S Batteries with Ultramicroporous Carbon-Sulphur
Cathodes“
18.00
ENDE
9
Dienstag, 7. Juli 2015
VORSITZ: F. MÜCKLICH
8.30
HV4
J. Kreisel, Luxembourg Institute of Science and Technology (LIST),
„Probing functional oxide thin films and multilayers by Raman
spectroscopy“
9.05
HV5
U. Kaiser, Universität Ulm, „Hochaufgelöste
Transmissionselektronenmikroskopie bei niedrigen
Beschleunigungsspannungen“
9.40
KV11
K. Hinrichs, A. Kroning, A. Furchner, Leibniz-Institut für Analyische
Wissenschafen – ISAS, Department Berlin, „Korrelation von
Infrarotspektren mit der Struktur dünner Filme an Fest-FlüssigGrenzflächen“
10.00
KV12
G. C. Eder, C. Brandl, B. S. Chernev, R. Vizcaya, V. Uhl,
Österreichisches Forschungsinstitut für Chemie und Technik (OFI),
Wien & Graz Zentrum für Elektronenmikroskopie (ZFE) & Zentrum
für Elektronenmikroskopie und Feinstrukturforschung (FELMI), Graz,
„Zerstörungsfreie Bestimmung des Vernetzungsgrades in
Polymeren: Ein Methodenvergleich“
10.20
KV13
R. Bittner, E. Eitenberger, G. Friedbacher, H. Hoffmann, TU Wien,
“Wetting properties of chemically modified silicon nanowire
surfaces”
10.40
KV14
K. Bonazza, R. Gaderer, A. Przylucka, G. Allmaier, I. S. Druzhinina,
G. Friedbacher, V. Seidl-Seiboth, TU Wien, „Die inverse Seife –
Hoch geordnete Schichten aus nicht amphiphilen Proteinen “
11.00
FIRMENPRÄSENTATIONEN
11.15
AUSSTELLUNG, KAFFEE
10
VORSITZ: M. KOPNARSKI
11.35
KV15
A. Orthacker, G. Haberfehlner, J. Tändl, M. C. Poletti,
G. Kothleitner, Graz Centre for Electron Microscopy & TU Graz,
„Analytical Electron Tomographic Investigation of Aluminum Alloys
with Nano-Precipitates“
11.55
KV16
J. Lösch, D. Spriestersbach, A. Brodyanski, E. Kerscher,
M. Kopnarski, Universität Kaiserlautern & IFOS – Institut für
Oberflächen- und Schichtanalytik GmbH, Kaiserlautern,
„Rissinitiierung und Risswachstumsmechanismus bei sehr hohen
Lastspielzahlen im hochfesten Stahl 100Cr6: APT- und TEMUntersuchungen“
12.15
KV17
M. Arndt, P. Kürnsteiner, C. Commenda, R. Steinberger,
J. Duchoslav, A. Schönauer, D. Stifter, Johannes Kepler
Universität Linz & voestalpine Stahl Linz GmbH, Linz,
„Untersuchung der durch Elektronenstrahlbeschuss verursachten
Kontamination auf Silizium- und Stahlproben im RasterAugerelektronen-Mikroskop“
12.35
MITTAGSPAUSE
VORSITZ: V. THIEN
14.00
HV6
B. Schmidt, K. Wetzig, Helmholtzzentrum Dresden-Rossendorf &
IFW Dresden, „Ionenstrahlanalyseverfahren in der
Materialforschung“
14.35
FIRMENPRÄSENTATIONEN
15.00
POSTERSITZUNG, AUSSTELLUNG, KAFFEE
11
VORSITZ: H. OECHSNER
16.20
KV18
R. Steinberger, J. Walter, M. Arndt, T. Greunz, J. Duchoslav,
T. Steck, J. Faderl, D. Stifter, Johannes Kepler Universität Linz &
TU Bergakademie Freiberg & voestalpine Stahl Linz GmbH, Linz,
„XPS-Tiefenprofilierung mittels Ionenbeschuss:
Herausforderungen und Grenzen in der Analytik von Oberflächen
und Schichtsystemen“
16.40
KV19
S. Kayser, H. Arlinghaus, S. Rademacher, D. Rading, E. Niehuis,
ION-TOF GmbH, Münster, „Neue Möglichkeiten der
retroperspektivischen Datenkorrektur und Datenanalyse von
ToF-SIMS Messungen“
17.00
KV20
T. Greunz, R. Steinberger, B. Strauß, D. Stifter, Johannes Kepler
Universität Linz & voestalpine Stahl Linz GmbH, Linz,
„Tiefenprofilierungen an organischen Beschichtungen auf Stahl“
17.20
KV21
M. Schülke, H. Paulus, G. Kiss, K.-H. Müller, Fachhochschule
Südwestfalen, Soest & TU Budapest, „Analytik von Wasserstoff in
Metallen mittels TDMS“
17.40
KV22
O. Sobol, G. Holzlechner, T. Wirth, G. Nolze, T. Boellinghaus,
W. E. S Unger, BAM – Bundesanstalt für Materialforschung und
–prüfung, Berlin, „Investigations of Hydrogen Embrittlement (HE)
by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy (ToF-SIMS)“
18.00
ENDE
12
13
Mittwoch, 8. Juli 2015
VORSITZ: M. HIETSCHOLD
8.30
HV7
P. Zeitoun, ENSTA ParisTech, Palaiseau, „Coherent and ultrafast
soft x-ray sources for dynamical study of perturbed solids“
9.05
KV23
D. Bleiner, Y. Arbelo Pena, M. Ruiz, F. Barbato, L. Masoudnia,
EMPA – Swiss Federal Laboratories for Materials Science and
Technology, Dübendorf, Schweiz, „Concomitant surface microscopy
and spectroscopy in the lab enabled by X-ray lasers “
9.25
KV24
R. Merz, S. Becker, H. Hasse, M. Kopnarski, IFOS – Institut für
Oberflächen- und Schichtanalytik GmbH, Kaiserlautern & TU
Kaiserslautern, „Einfluss von Adsorbatfilmen auf das
Benetzungsverhalten nach Reinigung von Stahl- und
Titanoberflächen“
9:45
KV25
N. Dadivanyan, L. Lukashuk, K. Föttinger, M. Sommariva,
PANalytical B.V., Almelo & TU Wien, „Structural Characterization
of Supported Noble Metal Catalysts by in-situ X-ray Diffraction“
10.05
AUSSTELLUNG, KAFFEE
VORSITZ: D. BLEINER
10.25
KV26
M. Otto, C. Hommel, D. Nennstiel, A. M. Reichelt, D. Bauer,
T. Vogt, TU Bergakademie Freiberg, „Direkte Feststoffanalytik mit
Hilfe der ETV-ICP OES “
10.45
KV27
J. D. Pedarnig, S. Eschlböck-Fuchs, P. J. Kolmhofer, N. Huber,
J. Heitz, R. Rössler, Johannes Kepler Universität Linz &
voestalpine Stahl Linz GmbH, Linz, „Calibration-free determination
of major oxides in solid steel slags by laser-induced breakdown
spectroscopy (LIBS) “
14
11.05
KV28
T. Prohaska, J. Draxler, J. Irrgeher, A. Zitek, University of Natural
Resources and Life Sciences, Wien, „Simultaneous chemical
imaging of the elemental and isotopic distribution in biological hard
tissues by LA-ICP-MS“
11.25
KV29
J. Thieleke, A. Dreyer, C. Vogt, Leibniz Universität Hannover,
„Referenzmaterialien und Kalibrationsstrategien für die
Quantifizierung von Spurenelementen in organischen Matrices“
11.45
MITTAGSPAUSE
VORSITZ: K.-H. MÜLLER
13.00
HV8
S. Schweizer, Fachhochschule Südwestfahlen, Soest,
„Materialdesign und –analyse von neuartigen Weißlicht-LEDs“
13.35
KV30
B. Stegemann, P. Balamou, K. M. Gad, D. Vössing,
M. Kasemann, H. Angermann, HTW Berlin – University of Applied
Sciences Berlin & Helmholtz Center Berlin for Materials and
Energy & University of Freiburg, „Passivation of ultrathin SiOx/c-Si
interfaces: Analysis of electronic and chemical properties by x-ray
photoelectron spectroscopy and surface photovoltage
measurements “
13.55
KV31
C. Reitböck, E. Glowacki, N. S. Sariciftci, D. Stifter, Johannes
Kepler Universität Linz & Linzer Institut für Organische Solarzellen
(LIOS), „Zerstörungsfreie und monolagen-sensitive Analyse von
organischen Oberflächen und Halbleitern mittels nicht-linearer
optischer Methoden“
14.15
KV32
H. Angermann, P. Balamou, J. Kegel, W. Lu, B. Stegemann,
Helmholtz Center Berlin for Materials and Energy & HTW Berlin –
University of Applied Sciences Berlin, “Optimierung der naßchemischen Präparation von Silizium durch Monitoring der
elektronischen Grenzflächeneigenschaften mittels SPV Messungen”
15
14.35
KV33
J. Martin, S. Mehrwald, D. Budina, M. Schäfer, K.-M. Weitzel,
Philipps-Universität Marburg, „Bombardment induced ion transport
through ion conducting glasses: analysis of conductivity and
diffusion profiles“
14.55
AUSSTELLUNG, KAFFEE
VORSITZ: G. FRIEDBACHER
15.15
KV34
J. K. Krüger, W. Possart, P. Müller-Buschbaum, M. Philipp,
Universität des Saarlandes, Saarbrücken & TU München,
„Temperature Modulated Optical Refractometry: a new high
performance technique to characterize transition phenomena in
condensed matter“
15.35
KV35
M. Holzweber, V.-D. Hodoroaba, W. E. S. Unger, BAM –
Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung, Berlin, „Ionic
liquids as an innovative (C)RM candidate for low energy EDS
performance check“
15.55
KV36
M. Bonta, A. Cakara, P. Mayrhofer, A. Limbeck, TU Wien,
“Quantitative analysis of Mo, Si, and B in oxidation resistant
coatings”
16.15
KV37
A. Limbeck, V. Bauer, C. Gierl-Mayer, H. Danninger, TU Wien,
„Quantitative Analyse von Bor in PM-Stählen mittels LA-ICP-MS“
16.35
SCHLUSSDISKUSSION
16.55
ENDE
16
Poster
Die besten 3 Poster werden mit Geldpreisen prämiert.
Die Preise werden von
gesponsert.
P1
A. Demidov, S. Eschlböck-Fuchs, I. B. Gornushkin, P. J. Kolmhofer,
J. D. Pedarnig, N. Huber, J. Heitz, R. Rössler, T. Schmid, U. Panne,
BAM – Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung, Berlin &
Johannes Kepler Universität Linz & Humboldt-Universität zu Berlin &
voestalpine Stahl Linz GmbH, Linz, „Two calibration-free approaches for
analysis of industrial oxides by laser-induced breakdown spectroscopy”
P2
S. Eschlböck-Fuchs, P. J. Kolmhofer, R. Rössler, N. Huber, J. Heitz,
J. D. Pedarnig, Johannes Kepler Universität Linz & voestalpine Stahl
Linz GmbH, Linz, „Comparison of calibration-free and multivariate
anaylsis of LIBS spectra from industrial oxides“
P3
S. Eschlböck-Fuchs, P. J. Kolmhofer, A. Demidov, I. B. Gornushkin,
T. Schmid, U. Panne, R. Rössler, N. Huber, J. Heitz, J. D. Pedarnig,
Johannes Kepler Universität Linz & BAM – Bundesanstalt für
Materialforschung und –prüfung, Berlin & Humboldt-Universität zu
Berlin & voestalpine Stahl Linz GmbH, Linz, „Tomography of laserinduced plasma using Radon transform technique for temporally and
spatially resolved plasma diagnostics”
P4
C. Kratz, T. W. H. Oates, D. Janasek, K. Hinrichs, Leibniz-Institut für
Analyische Wissenschafen – ISAS, Department Berlin & Department
Dortmund, „Verstärkungssubstrate für mikrofluidische Anwendungen in
der IR Mikroskopie”
17
P5
R. Kaindl, P. Angerer, W. Müller, J. Kranabetter, W. Stöger,
J. Lackner, W. Waldhauser, Joanneum Research
Forschungsgesellschaft mbH, Niklasdorf & Materials Center Leoben &
BVT Beschichtungs- und Verschleißtechnik GmbH, Lannach & Secar
Technologie, Mürzzuschlag, „Entwicklung von thermischen
Schutzschichten und IR-Reflexionsschichten für CFKVerbundwerkstoffe“
P6
S. Unterköfler, M. Lessiak, R. Haubner, TU Wien, „Raman und
elektrochemische Messungen an Diamantschichten auf
Kohlefaserkomposit (CFC)“
P7
M. Bonta, A. Limbeck, TU Wien, „Elemental mapping using LA-ICP-MS
– a versatile tool for spatial trace element analysis”
P8
R. Hesse, M. Weiß, R. Szargan, P. Steubel, R. Denecke, Universität
Leipzig, „Improved Peak Fit Procedure of XPS Measurements of
Inhomogeneous Samples – Development of the Advanced Tougaard
Background Method“
P9
D. Dhakal, C. Georgi, R. Ecke, S. E. Schulz, P. Brüner, T. Grehl,
K. Assim, H. Lang, T. Gessner, TU Chemnitz & Fraunhofer Institute
for Electronic Nano Systems – ENAS, Chemnitz & ION-TOF GmbH,
Münster, „XPS and LEIS Investigations of Ultrathin Cu2O Deposited by
Atomic Layer Deposition and Subsequent Reduction to Cu“
P10 J. I. J. Choi, W. Mayr-Schmölzer, F. Mittendorfer, J. Redinger,
U. Diebold, M. Schmid, TU Wien, „Surface Structure is Decisive for an
Oxide’s Properties“
P11 F. Kubel, TU Wien, „Solving crystal structures from powder diffraction
data”
P12 P. Hans, K. Hradil, TU Wien „On the acquiration of short range
structural information via the pair-distribution-function”
P13 S. Enghardt, J. Bauch, TU Dresden, „Einsatz von Fokalkurven zur
Auswertung kegelschnittförmiger Beugungsmuster“
18
P14 K. Varmuza, I. Hoffmann, P. Filzmoser, F. Brandstätter, C. Engrand,
L. Ferrière, M. Hilchenbach, C. Koeberl, J. Paquette, J. Silén,
O. Stenzel, TU Wien & Naturhistorisches Museum Wien & CSNSM,
Orsay, Frankreich & Max Planck Institute for Solar System Research,
Göttingen & Universität Wien & Finnish Meteorological Institute,
Helsinki, „Recognition of relevant spectra in ToF-SIMS measurements
on meteorite and comet grain samples by a chemometric approach”
P15 A. Steiger-Thirsfeld, J. Bernardi, TU Wien, „STEM-in-SEM“
P16 W. Hetaba, S. Löffler, M. Stöger-Pollach, A. Hütten, G. Parkinson,
P. Schattschneider, TU Wien & Fritz-Haber-Institut, Berlin &
McMaster University, Hamilton, Kanada & Universität Bielefeld,
„Probing magnetic phase transitions using EMCD”
P17 L. Konrad, M. Lattemann, J. Kraxner, D. Knez, A. Orthacker,
W. Grogger, G. Kothleitner, Graz Centre for Electron Microscopy &
TU Graz & AB Sandvik Coromant, Stockholm, „EEL and EDX
spectroscopic sensitivity factors for the quantitative analysis of hard
metals“
P18 S. Löffler, W. Hetaba, M. Bugnet, M.-G. Willinger, M. E. Schuster,
N. Gauquelin, S. Lazar, E. Assmann, K. Held, G. A. Botton, R. Schlögl,
P. Schattschneider, TU Wien & Fritz-Haber-Institut, Berlin &
McMaster University, Hamilton, Kanada, „Mapping electronic orbitals
in the TEM“
P19 J. Bernardi, A. Steiger-Thirsfeld, M. Linz, M. Rodríguez Ripoll,
TU Wien & Universität des Saarlandes, Saarbrücken & AC2T research
GmbH, Wiener Neustadt, „Kombinierte TEM und SEM Analyse von
Triboschichten“
P20 M. Rinne, K. Vano-Herrera, F. Zimmermann, C. Vogt, Leibniz
Universität Hannover,
„Untersuchung von Freisetzungs- und Degradationsprozessen an
Implantatoberflächen“
19
P21 H. Paulus, M. Schülke, K.-H. Müller, Fachhochschule Südwestfalen,
Soest, „Erhöhung der Wasserstoffaufnahme durch Funktionalisierung
der Oberflächen von Metallhydriden”
P22 H. Paulus, M. Schülke, K.-H. Müller, Fachhochschule Südwestfalen,
Soest, „Wasserstoffanalytik an hochfesten Stählen mit der
thermischen Desorptionsmassenspektrometrie TDMS“
P23 R. Haubner, S. Strobl, TU Wien, „Analysen an bronzezeitlichen
Kupferschlacken zur Beurteilung ihrer Entstehung in metallurgischen
Prozessen“
P24 M. Neshastehriz, I. Smid, A. Segall, T. Eden, J. Potter, The
Pennsylvania State University, University Park, USA, „Microstructure
Conditioning of Self-Lubricating hBN-Ni Particles using High- and LowEnergy Ball Milling for Cold Spray Coatings on Aluminum“
P25 J. Schreiber, T. Eden, I. Smid, M. Shamra, The Pennsylvania State
University, University Park, USA, „Finite Element Modeling of Hard
Particle Impact during Cold Spray Deposition“
P26 M. O. Loeh, F. Badaczewski, S. Hintner, J. Metz, B. M. Smarsly,
Justus Liebig Universität Giessen & Schunk Kohlenstofftechnik GmbH,
Heuchelheim, „Preparation of carbon monoliths with adjustable
porosities and structural characterization by an advanced evaluation
method of wide angle X-ray scattering data“
P27 S. Hintner, J. Metz, Schunk Kohlenstofftechnik GmbH, Heuchelheim,
„Analyse von Kohlenstoffmaterialien mit höheren Fremdatomgehalten
mittels ETV-ICP/OES – Signifikante Einflussgrößen für die
Methodenentwicklung“
P28 V. Schulgov, V. Sokol, Belorussische Staatliche Universität für
Informatik und Radioelektronik (BSUIR), Minsk, Weißrussland, „Poröse
Anodisierung des Aluminiums in Anwesenheit von oberflächenaktiven
Stoffen“
20
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from an unparalleled
spectrum of technologies.
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With the merger of VG Scienta and
Omicron to Scienta Omicron, the most
ĂĚǀĂŶĐĞĚĐĂƉĂďŝůŝƟĞƐŝŶWŚŽƚŽĞůĞĐƚƌŽŶ
^ƉĞĐƚƌŽƐĐŽƉLJ;W^Ϳ͕^ĐĂŶŶŝŶŐWƌŽďĞ
Microscopy;^WDͿ͕dŚŝŶͲ&ŝůŵƐĂŶĚ
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one roof. Here, we outline some of the
ĐŽŵďŝŶĞĚĐĂƉĂďŝůŝƟĞƐ͘/ŶĨĂĐƚ͕s'^ĐŝĞŶƚĂ
and Omicron have already delivered a
number of systems together in the past.
&ŽƌŵŽƌĞŝŶĨŽƌŵĂƟŽŶ
please check our new website
www.scientaomicron.com
WW^^LJƐƚĞŵƐ
Scienta Omicron is currently
developing the next generation
platform for Ambient Pressure
PES, utilising the latest advances
in sample handling and sample environment control. The
platform wil be based on the
imaging capabilities and outstanding transmission of the Scienta
HiPP-3 analyser. In combination
with the XM1200 monochromatic x-ray source, this will be
WKHPRVWHIÀFLHQWODEV\VWHPIRU
APPES ever.
www.scientaomicron.com
www.scientaomicron.com
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Omicron has a long history of
delivering systems combining
different analytical techniques
as well as deposition and other
modules. These capabilities are
now even stronger with the inhouse availability of the complete Scienta range of analysers. An
example of an ARPES and low
temperature STM combination
system is shown above. System
equipped with Scienta R4000
analyser and Omicron LT STM
ARPES module equipped with
Scienta R3000 analyser.
21
GESELLSCHAFTLICHES PROGRAMM
Sonntag, 5. Juli 2015
REGISTRATUR MIT WILLKOMMENSTRUNK
gesponsert von
16.00 - 20.00 Uhr am Tagungsort
Mittwoch, 8. Juli 2015
HEURIGENABEND
Abfahrt: 17.30 Uhr vom Tagungsort
gesponsert von:
Bezüglich kultureller Veranstaltungen wenden Sie sich bitte direkt an
Austropa-Interconvention.
ALLGEMEINE HINWEISE
Anmeldung zur Teilnahme an der Tagung, zum Willkommenstrunk und
zum
Heurigenabend
mittels
beiliegendem
Anmeldeformular
bis
19. Juni 2015 (vorzugsweise per Email oder Fax) an:
Prof. Dr. Gernot Friedbacher,
Institut für Chemische Technologien und Analytik, TU Wien,
Getreidemarkt 9/164-IAC,
A-1060 Wien
Fax: +43 1 58801 915110
E-mail: [email protected]
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Teilnehmerbeiträge:
Mitglieder der veranstaltenden Institutionen
€ 240,-alle übrigen Teilnehmer
€ 290,-Studenten (mit Bestätigung)
€ 100,-Begleitpersonen, die an den Vorträgen nicht teilnehmen, zahlen keine
Teilnehmergebühr.
Wir ersuchen um Überweisung der Teilnehmergebühr auf das
Kongresskonto: Bank Austria (Bankleitzahl: 12000), Konto-Nummer:
51429001619, IBAN: AT691200051429001619,
BIC: BKAUATWW lautend auf Technische Universität Wien. SPESENFREI
FÜR DEN EMPFÄNGER.
Spätester Einzahlungstermin: 19. Juni 2015
Zimmerbestellung:
Das Kongressbüro Austropa-Interconvention, Verkehrsbüro Kongress
Management GmbH, wurde mit der Reservierung von Hotelzimmern betraut
und bittet alle Teilnehmer, Bestellungen über www.fka18.at online
durchzuführen. Die genaue Angabe des An- und Abreisetages sowie der
gewünschten Hotelkategorie ist unbedingt erforderlich.
Weitere Informationen bezüglich Zimmerreservierung sind der Homepage
(www.fka18.at) zu entnehmen.
23
Posterpräsentation:
Es stehen pro Poster 2 Tafeln mit den Maßen 94 cm (Breite) x 186 cm
(Höhe) zur Verfügung, welche miteinander verbunden sind und direkt am
Boden aufliegen. Die Gesamtfläche von 188 cm x 186 cm sollte in 2 Teilen
belegt werden, wobei für jede Tafel ein Rand von ca. 2 cm berücksichtigt
werden muss. Die Befestigung der Poster erfolgt mit doppelseitigem
Klebeband.
Alle Poster bleiben während der gesamten Tagung montiert. Die Autoren
sollten während der Präsentationszeiten laut Programm anwesend sein.
Die besten 3 Poster werden mit Geldpreisen prämiert.
Die Preise werden von
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gesponsert.
4 Techniques – 1 Workflow.
ESPRIT 2, the
only software
which combines
4 microanalysis
methods.
Comprehensive management of analysis and results from
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