Técnicas de Análisis de Tamaño y Aspecto de Partículas

Técnicas de Análisis de Tamaño y Aspecto de Partículas
Fechas:
2 junio, Edificio CACTUS. Univ. Santiago Compostela
3 junio, IMDEA Nanociencia. Campus UAM
4 junio, I.Q.S. Barcelona
Horario:
10:00 – 14:00
Idiomas:
Castellano
Inscripción
Gratuita (hasta 1 semana antes)
*Plazas limitadas
Presentación:
Por favor, rellene este formulario y envíelo al Fax 914 841 313 o E‐mail a [email protected]
Nombre:
Apellidos:
Centro/empresa:
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El objetivo de este seminario es presentar todas las técnicas y nuevas aplicaciones que
ofrece Micromeritics Coporation para el análisis de tamaño y aspecto de partículas.
Tendremos la oportunidad de ver casos prácticos de máximo interés para los asistentes.
Departamento:
Programa:
Ciudad:
C.P.
10:00 – 11:00
Difracción láser, sedimentación y electrodetección para análisis de tamaño de partículas
Provincia:
E‐mail:
Teléfono:
Fax.
11:00 – 12:00 DLS
DLS para análisis de nano a micro partículas
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tí l y potencial zeta.
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12:00 – 12:30 Coffe break
12:30 – 14:00 Demostraciones con Nanoplus DLS III y Particle Insight Dynamic Image Analyzer
Ponentes: Peter Bouza, Product Manager, Micromeritics Instrument Corporation
Eduardo Delgado, Jefe de Producto, Bonsai Advanced Technologies SL
Agradecemos especialmente la colaboración en la organización de estos seminarios a:
D. Ramiro Barreiro Pérez (CACTUS) D. Aitziber López (IMDEA Nanociencia) D. Salvador Borrós (Instituto Químico Sarriá)
Cargo:
Dirección:
Desearía inscribirme en el siguiente Seminario:
Universidad de Santiago
02/06/2015
IMDEA Nanociencia UAM
IMDEA Nanociencia, UAM
03/06/2015
I.Q.S. Barcelona
04/06/2015
Marque lo que Proceda
BONSAI ADVANCED TECHNOLOGIES SL Avenida Valdelaparra 27, Edificio 1 Bajo 3 28108 Alcobendas (Madrid) Teléfono: 91 490 23 34 – Fax: 91 484 13 13 e‐mail: [email protected] ‐ www.bonsaiadvanced.com