LABORATORIJ ZA TEHNOLOŠKE MERITVE
UNIVERZA V MARIBORU - FAKULTETA ZA STROJNIŠTVO
Nosilec nacionalnega etalona za dolžino
prof. dr. Bojan Ačko
Ljubljana, 18. 9. 2015
Vodja laboratorija:
red. prof. dr. Bojan Ačko
Sodelavci:
dr. Lucija Črepinšek Lipuš, asistentka
dr. Rok Klobučar, asistent
Mitja Mlakar, tehniški sodelavec
Jasna Tompa, tehniška sodelavka
Tanja Kos, tehniška sodelavka
Ljubljana, 18. 9. 2015
Področja dejavnosti:
Pedagoški proces na dodiplomskih in podiplomskih študijskih
programih Strojništvo, Inženirsko oblikovanje izdelkov in
Gospodarsko inženirstvo
Raziskovalno delo na področju meroslovja in sistemov vodenja
kakovosti
Nosilec nacionalnega etalona za dolžino:
• vzdrževanje in razvoj etalonske baze in baze meroslovnega znanja
• vzdrževanje in razvoj najboljših kalibracijskih in meroslovnih zmogljivosti v
državi na področju veličine „dolžina“
• razvoj in izdelava vrhunske merilne opreme in etalonov
• razvoj merilnih metod in praktičnih aplikacij za meritve dolžin
Ljubljana, 18. 9. 2015
Umerjanje in najboljše kalibracijske in merilne
zmogljivosti (CMC)
Področje umerjanja
(CMC)
Laserske frekvence (primarna raven)
U = 24 kHz
Enodimenzijske opredmetene mere (kladice,
obroči, krogle, trni, …)
U = (35 nm )2 + (0,5 × 10 -6 × L)2 ;
Črtna merila
Trikoordinatne meritve
U = 0,2 µm + 10-6×L
Koti
U = 0,2 ²
Industrijski merilni instrumenti
Ljubljana, 18. 9. 2015
Oprema
Frekvenčno stabiliziran laser (primarni etalon dolžine)
Ljubljana, 18. 9. 2015
Oprema
2 laserska interferometra
Ljubljana, 18. 9. 2015
Oprema
Komparatorja za umerjanje končnih meril
Ljubljana, 18. 9. 2015
Oprema
Trikoordinatna merilna naprava
Ljubljana, 18. 9. 2015
Oprema iz projekta v okviru Evropskih strukturnih skladov
Ljubljana, 18. 9. 2015
Oprema iz projekta v okviru Evropskih strukturnih skladov
Naziv opreme:
Merilni instrument za merjenje dolžin v dveh koordinatah s
submikrometrsko ločljivostjo
Namen uporabe:
Precizno umerjanje optičnih in mehanskih etalonov v eni in dveh
koordinatah (črtna merila, 2D optični etaloni, stopničasta merila, notranji
in zunanji premer valja, razdalja med vzporednima ravninama, ...)
Ciljna meroslovna zmogljivost:
Najboljša predvidena merilna in kalibracijska zmogljivost (CMC)
izražena kot merilna negotovost z nivojem zaupanja 95 % je:
U = (50 nm )2 + (0,5 × 10 -6 × L)2 ; L - merilna dolžina
Ljubljana, 18. 9. 2015
Oprema iz projekta v okviru Evropskih strukturnih skladov
Instalacija:
Oktober 2013
Izvedene izboljšave meroslovnih zmogljivosti:
• Enodimenzionalna črtna merila (optični etaloni)
Obstoječ CMC: U = 0,12 µm + 2,4×10-6 × L
Izboljšan CMC: U = 0,09 µm + 1,1×10-6 × L
(Napravo smo nadgradili z laserskim interferometrom in CCD kamero, izdelali
postopek umerjanja in krmilne algoritme; postopek je bil ocenjen v sklopu
nadzora SA, čakamo na širitev obsega akreditacije)
Ljubljana, 18. 9. 2015
Oprema iz projekta v okviru Evropskih strukturnih skladov
Sistem za umerjanje 1D
črtnih meril
Ljubljana, 18. 9. 2015
Oprema iz projekta v okviru Evropskih strukturnih skladov
Nadaljnje planirane izboljšave meroslovnih zmogljivosti:
• Umerjanje 2D optičnih etalonov: razvoj metode in postopkov do konca
leta 2016, akreditacija predvidoma v prvi polovici leta 2017
• Umerjanje stopničastih meril: dograditev merilne naprave in razvoj
metode predvidoma do konca leta 2017, akreditacija predvidoma v letu
2018
• Umerjanje zunanjih in notranjih premerov ter razdalj med vzporednima
ploskvama: dograditev merilne naprave in razvoj metode predvidoma
do konca leta 2019, akreditacija predvidoma v letu 2020
Ljubljana, 18. 9. 2015
Ljubljana, 18. 9. 2015