גרימת VF בזמן החלפת גרימת VF בזמן החלפת דפיברילטור - his

‫גרימת ‪ VF‬בזמן החלפת‬
‫דפיברילטור אוטומטי‪...‬‬
‫פעולה מיותרת או מצילת חיים ?‬
‫ערן בן‪-‬יוסף‬
‫מעיין פרי‬
‫גאמידה מדאקויפ‬
‫פרופ מיכאל גליקסון‬
‫מרכז רפואי שיבא‬
‫מצגת זו תתאר ‪ 2‬מקרים בהם בדיקת‬
‫העלתה בעיות חמורות בתפקוד‬
‫החולים ל‬
‫ל‬
‫של‬
‫ה‪ DFT-‬ל‬
‫הדפיברילטור האוטומטי‪.‬‬
‫בדיקות ה‪ DFT-‬בזמן ההשתלות‪/‬החלפות הינו‬
‫במחלוקת בין הרופאים השונים‪.‬‬
‫ל‬
‫נושא השנוי‬
‫עולה במיוחד בחולים‬
‫חשיבות ה‪ DFT-‬בהחלפות‪ ,‬ע‬
‫אשר לא נזקקו לדפברילציה בעברם‪.‬‬
‫מקרה ראשון‪-‬החלפת מכשיר‬
‫חד לשכתי בשל סיום חיי סוללה‬
‫‪ ‬חולה בן ‪.81‬‬
‫‪ ‬מחלה קורונרית ברקע‪+‬תיעוד של אירועי ‪SMVT‬‬
‫לו להשתלת ‪ AICD‬בשנת ‪ .1998‬בשנת ‪2004‬‬
‫הובילו‬
‫הוב‬
‫הוחלף המכשיר והושתלה אלקטרודה נוספת‬
‫לקיצוב‪/‬חישה‪,‬עקב רעשים מכאניים)‪.(SJM 1488T‬‬
‫ביקורות שגרתיות במרפאה הראו תפקוד תקין‬
‫של המכשיר והאלקטרודות לאורך כל התקופה‪.‬‬
‫בדיקה בתחילת החלפת המכשיר ‪:‬‬
‫שלישית‪.‬‬
‫החלפה ל‬
‫בתאריך ‪ 23/06/2010‬בוצעה ל‬
‫בדיקות ערכי האלקטרודות בעת ההחלפה היו‬
‫תקינות‪.‬‬
‫בוצעה בדיקת תנגודת מעגל מתח‪-‬גבוה ע"י‬
‫המכשיר )בצורה חשמלית ללא מתן שוק(‪,‬ללא ממצאים‬
‫חריגים‪.‬‬
‫לחלוטיןן‪,‬האלקטרודות‬
‫תקיןן לחלוט‬
‫ה תק‬
‫היה‬
‫מהלך ההחלפה ה‬
‫הישנות חוברו למכשיר החדש )‪(SJM CURRENT VR 36‬‬
‫בוצעו מדידות דרך הפרוגרמר‪ ,‬ונצפו מדדים תקינים‪.‬‬
‫בדיקת ‪ DFT‬בסוף ההחלפה‬
‫הבדיקה בוצעה ע"י מתן זרם ישיר )‪ ,(DC‬דבר‬
‫המפיק פרפור חדרים)‪.(VF‬‬
‫כיוון המכשיר לרגישות מנמלית ‪-‬לבדיקת זיהוי‬
‫ראוי של הפרעת הקצב‪.‬‬
‫שוק ראשון ‪ ,20J‬שוק שני ‪ ,36J‬במקרה של כשלון‬
‫שוק חיצוני ‪.360J‬‬
‫ממצאי בדיקת ה‪DFT-‬‬
‫‪ ‬זיהוי תקין של הפרעת הקצב היזומה‪.‬‬
‫‪ ‬המכשיר החל להיטען לקראת שוק ראשון‪.‬‬
‫ם‪,,‬‬
‫חדרים‬
‫עדיין בפרפור חדר‬
‫הטעינה החולה נמצא עד ן‬
‫בגמר הטע נה‬
‫שוק ראשון של ‪ 20J‬לא מצליח להפסיק את הפרפור‪.‬‬
‫מקסימאלית‬
‫ל‬
‫של המכשיר ללאנרגיה‬
‫טעינה נוספת ל‬
‫‪,36J‬שוק שני שנכשל גם הוא!‬
‫שוק חיצוני של ‪ 360J‬מפסיק לבסוף את הפרעת‬
‫הקצב‪.‬‬
Interrogation after induced VF
What is wrong
g here ?
‫ממצאי בדיקת המכשיר‬
‫תחקור המכשיר ע"י הפרוגרמר‪:‬‬
‫‪ ‬זמן טעינה תקין‪.‬‬
‫‪ ‬רישומי המכשיר מראים ‪ EGM‬תקין‪,‬סימון ראוי‬
‫של האינטרוולים השונים‪,‬ציון טיפולים במקום‪.‬‬
‫‪ ‬תנגודת מתח‪-‬גבוה‪! 0 ohm :‬‬
‫על הפרוגרמר‪:‬‬
‫‪ ‬בנוסף הוצגה ההתראה הבאה ל‬
‫‪Possible High Voltage Lead Issue‬‬
‫מסקנות‬
‫‪ ‬ככל הנראה מדובר בפריצה של בידוד‬
‫האלקטרודה‪,‬לא ניתן להשתמש באלקטרודה‬
‫הנוכחית‪.‬‬
‫‪ ‬אלקטרודה חדשה הושתלה ומוקמה ב‪SEPTUM-‬‬
‫‪.((SJM DURATA 7120-65‬‬
‫‪7120 65)MID‬‬
‫‪ ‬מדדי האלקטרודה החדשה היו תקינים‪,‬והיא‬
‫חוברה למכשיר‪.‬‬
‫‪ ‬לא היה צורך בהחלפת המכשיר‪ -‬מדובר בדגם‬
‫חדיש יחסית ובעל מערכת הגנה נגד קצרים‪ ,‬בעבר‬
‫מקרים דומים גרמו ל"שריפת" המכשיר להשבתתו‪.‬‬
‫בדיקת ‪ DFT‬מחודשת‬
‫‪ ‬הפקת הפרעת קצב –‪VF‬‬
‫‪ ‬זיהוי תקין של כל האינטרוולים‪.‬‬
‫‪ ‬טעינת המכשיר ל‪ 20J-‬ומתן שוק‪.‬‬
‫‪ ‬הפרעת הקצב הופסקה והחולה חזר ל‪.NSR-‬‬
‫לסיכום‬
‫‪ ‬רק בדיקת המכשיר במתן שוק חשמלי מלא גילתה‬
‫האלקטרודה‪.‬‬
‫את בעיית ל‬
‫ובדיקת התנגדות‬
‫ק‬
‫בדיקת מרפאה שגרתית‬
‫ק‬
‫‪‬‬
‫הסלילים במתח נמוך אינה מספקת ביטחון מלא‬
‫תקינות המערכת‪.‬‬
‫לגבי ק‬
‫‪ ‬חשיבות בדיקת ה‪ VF-‬גדולה בחולים נושאי ‪AICD‬‬
‫המכשיר‬
‫ר‬
‫העוברים החלפה ללא עבר של הפעלות המכש‬
‫העובר ם‬
‫בשל הסכנה של נזק לבידוד במשך השנים‪.‬‬
‫מקרה ‪- 2‬החלפת דפיברילטור עקב‬
‫סיום חיי סוללה‬
‫חולה בת ‪. 40‬‬
‫ל‬
‫ברקע מחלת לב מולדת מלווה באירועים של ‪.MVT‬‬
‫השתלה ראשונה בשנת ‪,2004‬דפיברילטור דו‪-‬לשכתי‪.‬‬
‫דה בגודל גל ‪ R‬גרמה בעבר למצב של‬
‫ירידה‬
‫ר‬
‫‪ T WAVE OVERSENSING‬ובעקבות כך להפעלות‬
‫של המכשיר‪,‬הוארך‬
‫המכשיר‪ .‬בוצע תכנות מחודש ל‬
‫‪ DECAY DELAY‬ע"מ למנוע חישת גלי ‪.T‬‬
‫בתאריך ‪ 02/05/10‬בוצעה החלפת המכשיר עקב‬
‫האלקטרודות בעת‬
‫הסוללה‪ .‬בדיקות ל‬
‫לל‬
‫סיום חיי‬
‫תקינים למעט חישה נמוכה‬
‫ההחלפה העלו פרמטרים ק‬
‫של גל ‪.(R wave =3.5mv) R‬‬
‫אל המכשיר‬
‫תכנות המכשיר הישן הועתק במדויק ל‬
‫החדש)‪.(SJM Current Accel DR‬‬
‫בסיום ההחלפה בוצעה בדיקת ‪.DFT‬‬
‫בדיקת ה‪DFT-‬‬
‫הפקת הפרעת קצב ע"י זרם ישיר ‪ ,DC‬הופעת‬
‫פירפור חדרים ‪.VF‬‬
‫כשלון המכשיר בזיהוי הפרעת הקצב‪-‬מרבית‬
‫האינטרוולים אינם נספרים וחלקם מושמטים עקב‬
‫שיטת ה‪ BINNING -‬של ‪. SJM‬‬
‫הקצב‬
‫חוסר הזיהוי מונע מהמכשיר לטפל בהפרעת ק‬
‫ושוק חיצוני ניתן ע"מ לסיים את הפרעת הקצב‪.‬‬
Binning method
Current Interval and Average Interval
method
 The Average Interval is calculated by
using the Current Interval and the previous
three (total 4)
 Average interval provides a "smoothing"
effect on the detection algorithm

Bi i
Binning
Surface ECG
Ventricular EGM
Markers
Current I
Average Interval
Current I
Average Interval
Current I
Average Interval
If both the current and average interval have
the same classification then the interval is
binned for that detection zone
 If both the interval and average are nonsinus and have different
ff
classifications,
f
then
the interval is binned for the faster detection
zone
 If either the current or the average
g interval
are classified as “Sinus” (VS), then the
interval is not binned for any zone, indicated
by a “-” !!

Binning Matrix
‫מה השתבש?‬
‫מדובר בצירוף של‬
‫‪VF UNDERSENSING‬‬
‫‪UNDERSENSING+ BINNING ERROR‬‬
‫הסיבה לכך נעוצה בפרמטרים ששונו בעבר)מכשיר קודם(‬
‫גלי ‪.T‬‬
‫של ל‬
‫של חישת יתר ל‬
‫ע"מ ללמנוע מצב ל‬
‫שימוש באלגוריתם של ‪ DECAY DELAY‬מנע חישת גלי‬
‫‪.T‬‬
‫חישה נמוכה של גל‬
‫רוף של ‪ DECAY DELAY‬מוארך עם ח שה‬
‫צצירוף‬
‫‪ R‬עלול לגרום לבעיה בחישת הפרעות קצב!‬
‫דרכי טיפול אפשריות‬
‫‪ ‬תכנות מחדש של המכשיר‪,‬תוך שימוש בערכים נומינליים‬
‫צרן‪.‬‬
‫היצרן‬
‫של ה‬
‫‪ ‬נעשתה בדיקת ‪ DFT‬מחודשת‪ ,‬המכשיר תוכנת לרגישות‬
‫ך זיהוי מלא של הפרעת‬
‫ק ‪ , VF‬תוך‬
‫מנמלית של ‪ 1mv‬הופק‬
‫הקצב‪ ,‬מלווה בטיפול יעיל של ‪.DC SHOCK‬‬
‫‪ ‬הושתלה אלקטרודת קיצוב חדשה )‪.(SJM 1788TC-58‬‬
‫‪ ‬בדיקת הפרמטרים העלתה נתונים תקינים‪ ,‬בוצעה בדיקת‬
‫‪ DFT‬נוספת‪ ,‬עם הצלחה מלאה בזיהוי וטיפול של‬
‫הדפיברילטור‪.‬‬
‫ל‬
‫לסיכום‬
‫‪ ‬בדיקת ה‪ DFT-‬שבוצעה בזמן ההחלפה‪,‬העלתה‬
‫ר‪.‬‬
‫המכשיר‬
‫זיהוי הפרעות קצב ע"י המכש‬
‫ה חמורה של ז הו‬
‫בעיה‬
‫בע‬
‫‪ ‬לולא בוצעה בדיקת ‪ ,DFT‬אירוע הפרעת קצב מסוכנת‬
‫טיפול‬
‫פול‬
‫תן ט‬
‫ה נניתן‬
‫היה‬
‫ר ועקב כך לא ה‬
‫המכשיר‬
‫היה מזוהה ע"י המכש‬
‫לא ה ה‬
‫בהתאם‪.‬‬
‫קת שלמות‬
‫לבדיקת‬
‫איננה רק לבד‬
‫בדיקת ה‪ VF -‬א ננה‬
‫חשיבות בד קת‬
‫‪ ‬חש בות‬
‫המערכת אלא גם לבדיקת נושא ה ‪.SENSING‬‬
‫ובמי‬
‫קטנים ובמ‬
‫שגלי ‪ R‬שלהם קטנ ם‬
‫במי שגל‬
‫במיוחד במ‬
‫‪ ‬הנושא חשוב במ וחד‬
‫שנעשו בהם שינויים שעלולים להשפיע על ‪DETECTION‬‬